故障解析の本おすすめ4選｜部品入門・半導体・LSI・現場対策で比較

壊れ方の原因調べ（故障解析）の本は候補が広く、迷いますよね。

担当の仕事に合う技術書が、ここで買うものなんです。

担当ごとの1冊と、隣の本との境をまとめてみました。

条件別おすすめ早見表

部品入門と半導体と大規模集積回路（LSI）では、中身の置き場が違います。

条件	おすすめ
単体部品の壊れ方から知りたい	日科技連 デバイス・部品の故障解析
半導体そのものの不良解析室	日科技連 半導体デバイスの不良・故障解析技術
大規模集積回路（LSI）の良品率（歩留）と開発	LSI故障解析技術のすべて
工場の不具合再発防止	日刊工業新聞社 故障・不具合対策の決め手
電気製品の事故と原因究明	日刊工業新聞社 電気製品事故の原因究明へ
LSIで日科技連の手法書が欲しい	日科技連 LSI故障解析技術
実装と微小な接合の評価	科学情報出版 半導体実装技術の基礎と応用
炭化ケイ素（SiC）と窒化ガリウム（GaN）の実装評価	日刊工業新聞社 SiC／GaNパワー半導体の実装と信頼性評価技術

部品入門向けの本

『デバイス・部品の故障解析』は抵抗やコンデンサなど、部品とデバイスの入口の1冊です。

単体部品の壊れ方から知りたい人には、この本がおすすめなんです。

チップ製造工程の解析の話量は、半導体向けの本の側にあります。

半導体向けの解析本

『半導体デバイスの不良・故障解析技術』は不良解析そのものが主題です。

半導体そのものの不良を調べる解析室には、この本がおすすめです。

部品入門の本より、デバイス内部の不良に寄っています。

大規模集積回路（LSI）の良品率まで追う仕事は、LSI向けの本。

LSI向けの解析本

『LSI故障解析技術のすべて』は良品率と開発まで含む総覧です。

大規模集積回路の良品率や開発の解析には、この本がおすすめです。

単体部品の入門本では、LSIの良品率の話量は足りません。

日科技連の手法書は、この総覧の隣の候補です。出版社名の記載はありません。

現場対策向けの本

『故障・不具合対策の決め手』は止め方に寄った現場の本です。

工場で同じ不具合を止める仕事には、この本がおすすめです。

主題は不具合の止め方で、解析室の断面観察は薄いんです。

製品事故の究明と実装評価は、早見表の別行です。

4冊の項目比較

4冊は主題も出版社も叢書も揃いません。

比較項目	日科技連 デバイス・部品の故障解析	日科技連 半導体デバイスの不良・故障解析技術	LSI故障解析技術のすべて	日刊工業新聞社 故障・不具合対策の決め手
主題	部品入門	半導体デバイス	LSI	現場の不具合対策
出版社	日科技連出版社	日科技連出版社	記載なし	日刊工業新聞社
叢書	信頼性110番	信頼性技術叢書	なし	なし

読み順と使い分け

• 解析室の本と工場の止め方は別冊で揃える
• 部品入門からLSIの良品率へは飛ばない
• 事故究明と実装評価は早見表の別行を使う

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