FIB 試料加工 観察 本 おすすめ3選

FIBの試料加工や観察について調べるとき、どの本が知りたい内容に近いのか迷いますよね。

試料準備や観察手法、FIB-SEMの章立てを手掛かりに、知りたいテーマを探せます。

今回は、FIBや関連する顕微鏡技術を扱う3冊をご紹介します。

おすすめ商品の早見表

商品名	FIB関連の掲載内容	参考価格（取得日）
Introduction to Focused Ion Beams	FIB TEM試料準備、リフトアウト試料作製、デュアルビーム（FIB-SEM）システム	21,235円（2026-10-29取得）
走査電子顕微鏡 第2版	SEMの試料調整・観察、FIBとの併用と三次元像構築、FIB-SEMシリアルセクショニング、データ解析・自動化	4,096円（2026-10-29取得）
プラズマ・イオンビームとナノテクノロジー	プラズマ・イオンビームの基礎・装置技術、FIBの断面SIM像観察・TEM試料作製・断面測長・三次元ナノ立体構造	—

Introduction to Focused Ion Beams

FIBでTEM試料を準備する方法やリフトアウト技術を学びたい人には、本書がおすすめです。目次にはTEM試料準備とリフトアウトの章に加え、デュアルビーム（FIB-SEM）システムの章もあり、試料加工と装置のテーマをそれぞれ調べられます。

走査電子顕微鏡 第2版

SEMの試料準備や観察手法を学びたい人には、本書がおすすめです。さまざまな種類の試料について調整法や観察手法を実例とともに解説しており、FIBとの併用による三次元像構築やFIB-SEMのシリアルセクショニングも扱っています。

プラズマ・イオンビームとナノテクノロジー

FIBによる試料作製や断面観察の応用例を知りたい人には、本書がおすすめです。FIBの応用例としてTEM試料作製や断面SIM像観察を扱い、プラズマ・イオンビームの基礎や装置技術も収録しています。

内容の軸から選ぶ

• FIBのTEM試料準備やリフトアウト技術を学びたい人
  • Introduction to Focused Ion Beams
• SEMの試料調整・観察とFIB併用の三次元像構築を知りたい人
  • 走査電子顕微鏡 第2版
• プラズマ・イオンビームの基礎やFIBの応用例を知りたい人
  • プラズマ・イオンビームとナノテクノロジー

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