陽電子消滅法による空孔欠陥評価におすすめの本2選

陽電子消滅法による空孔欠陥評価におすすめの本2選

オフ 投稿者: せせら編集部

この記事を書いている人(せせら)

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陽電子消滅法や空孔欠陥を学ぶ本を選ぶとき、どの範囲まで扱う本が自分に合うのか迷いますよね。

点欠陥の形成エネルギー測定法として陽電子消滅法を扱う本や、半導体の空孔・転位などを対象にした本があります。

今回は、結晶欠陥の物理[POD版]と Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies を紹介します。

おすすめ商品の早見表

商品名陽電子消滅法に関する収録内容
結晶欠陥の物理[POD版]点欠陥の形成エネルギー測定法として陽電子消滅法を収録
Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies半導体の格子欠陥を扱い、空孔・不純物と空孔の複合体・転位を対象例として紹介

結晶欠陥の物理[POD版]

点欠陥の形成エネルギー測定における陽電子消滅法を学びたい人には、『結晶欠陥の物理[POD版]』がおすすめです。本書では、点欠陥の形成エネルギーを測る方法の一つとして陽電子消滅法を扱っています。POD版は受注生産で、注文から届くまで通常半月程度かかります。注文の取り消し・キャンセルと返品はできないため、この条件を確認してから選びたい一冊です。

結晶欠陥の物理[POD版]

Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies

半導体の空孔欠陥を陽電子消滅法で学びたい人には、『Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies』がおすすめです。陽電子消滅法による半導体の格子欠陥調査を扱い、空孔のほか、不純物と空孔の複合体や転位も対象にしています。実験結果を理解するための理論的背景も詳しく説明されています。

Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies

学びたい内容から選ぶ

版型ごとにISBNが異なる

注文時に版型を指定したい場合は、ハードカバー版とソフトカバー版のISBNを見分けると選びやすくなります。同じ『Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies』でも、版型ごとにISBNが分かれています。

版型ISBN
ハードカバー978-3-540-64371-5
ソフトカバー978-3-642-08403-4
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