
陽電子消滅法による空孔欠陥評価におすすめの本2選
陽電子消滅法や空孔欠陥を学ぶ本を選ぶとき、どの範囲まで扱う本が自分に合うのか迷いますよね。
点欠陥の形成エネルギー測定法として陽電子消滅法を扱う本や、半導体の空孔・転位などを対象にした本があります。
今回は、結晶欠陥の物理[POD版]と Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies を紹介します。
おすすめ商品の早見表
| 商品名 | 陽電子消滅法に関する収録内容 |
|---|---|
| 結晶欠陥の物理[POD版] | 点欠陥の形成エネルギー測定法として陽電子消滅法を収録 |
| Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies | 半導体の格子欠陥を扱い、空孔・不純物と空孔の複合体・転位を対象例として紹介 |
結晶欠陥の物理[POD版]
点欠陥の形成エネルギー測定における陽電子消滅法を学びたい人には、『結晶欠陥の物理[POD版]』がおすすめです。本書では、点欠陥の形成エネルギーを測る方法の一つとして陽電子消滅法を扱っています。POD版は受注生産で、注文から届くまで通常半月程度かかります。注文の取り消し・キャンセルと返品はできないため、この条件を確認してから選びたい一冊です。
結晶欠陥の物理[POD版]
Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies
半導体の空孔欠陥を陽電子消滅法で学びたい人には、『Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies』がおすすめです。陽電子消滅法による半導体の格子欠陥調査を扱い、空孔のほか、不純物と空孔の複合体や転位も対象にしています。実験結果を理解するための理論的背景も詳しく説明されています。
Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies
学びたい内容から選ぶ
- 点欠陥の形成エネルギー測定法として陽電子消滅法を学びたい人
- 半導体の空孔や転位などを陽電子消滅法で調べる内容を学びたい人
版型ごとにISBNが異なる
注文時に版型を指定したい場合は、ハードカバー版とソフトカバー版のISBNを見分けると選びやすくなります。同じ『Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies』でも、版型ごとにISBNが分かれています。
| 版型 | ISBN |
|---|---|
| ハードカバー | 978-3-540-64371-5 |
| ソフトカバー | 978-3-642-08403-4 |


