半導体 DFT スキャンテスト設計 本 おすすめ3選

この記事を書いている人（せせら）

普段は個人事業主のプログラマーとして仕事をしています。
個人で作業効率化サービスを運営し、挑戦を続ける人々を静かに応援しています。

半導体のDFTやスキャンテスト設計を学ぶ本は、扱うテーマが重なっていて、どれを選ぶか迷いますよね。

目次や内容紹介を確かめると、スキャン設計を軸に読む本から、商用EDAツールの適用例やスクリプトを含む本まで、学びたい範囲に合わせて選びやすくなります。

今回は、DFTとスキャンテスト設計に関する3冊を、収録テーマと出版社が案内する読者層とともに紹介します。

おすすめ商品の早見表

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

VLSI設計やテストの実務で、DFTの基本から周辺のテスト手法まで学びたい人には、『VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability』がおすすめです。DFTに加えて、論理・故障シミュレーションやテスト生成、Logic BIST、テスト圧縮を扱い、境界スキャンやアナログ・混合信号テストの章も収録しています。

本書は英語で書かれています。

Design-for-test for Digital IC’s and Embedded Core Systems

DFTやスキャン設計を学び、関連するテスト手法まで押さえたい設計・DFTエンジニアには、『Design-for-test for Digital IC’s and Embedded Core Systems』がおすすめです。基本的なスキャン設計に加え、AC scanやat-speed scan、組み込みDFT、メモリ・ロジック・スキャンBISTを扱います。スキャンを学ぶには、チップレベル設計への適用だけが目的の場合でも、複数の節を読む必要があります。基本的なDC scanは第3章の3.1〜3.19節、スキャンとメモリアーキテクチャの相互作用は第4章の4.14〜4.18節で扱い、AC scanやat-speed scanまで学ぶ場合は第3章の3.19〜3.26節も追加で読む範囲です。

数字集成电路测试——理论、方法与实践

デジタル集積回路テストの理論と、商用EDAツールを使った実践例の両方を学びたい人には、『数字集成电路测试——理论、方法与实践』がおすすめです。テスト生成や可测试性設計、ロジックBIST、テスト圧縮、SoCテストなどを例とともに扱い、商用EDAツールによる具体的な適用過程も紹介しています。

関連分野を学ぶ高学年の学部生・大学院生向けの教材で、集積回路設計・テスト分野の開発者や研究者にも参考書として紹介されています。付属教材リソースには、EDAツールの適用スクリプトと説明、設計事例、演習問題の解答なども含まれています。

目的に合わせた選び方

• DFTから境界スキャン、アナログ・混合信号テストまで学びたい人
  • VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
• DC scanを基礎に、メモリアーキテクチャとの相互作用やAC・at-speed scanも学びたい人
  • Design-for-test for Digital IC’s and Embedded Core Systems
• デジタル集積回路テストの理論に加え、商用EDAツールでの適用例や学習用リソースも求める人
  • 数字集成电路测试——理论、方法与实践